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Tohoku Univ,
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透過電子顕微鏡

R0001298R0001298A-TU-017(3)3010
装置名称モノクロメーター搭載
超高分解能収差補正型
分析電子顕微鏡
超高分解能収差補正型
分析電子顕微鏡
サブ・オングストローム
高分解能
分析透過電子顕微鏡
透過電子顕微鏡
Titan³™ 60-300
Double Corrector
 (FEI-Company)
Titan³™ 60-300
Probe Corrector
 (FEI-Company)
Titan™ 80-300
Image Corrector
(FEI-Company)
JEM-3010 (日本電子)     現在停止中(2016/07/13)
電子銃FE電子銃(X-FEG)
(加速電圧:60kV, 300kV)
FE電子銃(X-FEG)
(加速電圧:60kV, 300kV)
FE電子銃
(加速電圧:80kV, 300kV)
熱放射型(LaB6 )電子銃
(加速電圧:300kV)
観察機能球面収差補正装置
(Image & Probe Corrector) 
球面収差補正装置
(Probe Corrector) 
球面収差補正装置
(Image Corrector) 
TEM分解能 ; 80 pm, 70 pm (Mono on) TEM分解能 ; 130 pmTEM分解能 ; 0.1nm (300kV)
; 0.15nm (80kV)
TEM分解能 0.19nm
STEM 高分解能 ; 70 pmSTEM 高分解能 ; 70 pmSTEM 高分解能 ; 135pm~140pm
エネルギー分解能 ; 0.85eV, 0.3eV (Mono on)
Gatan UltraScan1000 2k x 2k CCDカメラ Gatan UltraScan1000 2k x 2k CCDカメラ Gatan MultiScan 1k x 1kCCDカメラ  CCDカメラ
分析機能super X EDSシステム
(冠状SDD型)
super X EDSシステム
(冠状SDD型)
EDSシステム
(LN冷却)
EDSシステム
(LN冷却)
EELS システム
 Gatan GIF, Tridium
3Dトモグラフィ3Dトモグラフィ3Dトモグラフィ
TEM/STEM 明視野/暗視野/高分解能観察/電子回折/EDS分析/元素マッピングTEM/STEM 明視野/暗視野/高分解能観察/電子回折/EDS分析/元素マッピングTEM/STEM 明視野/暗視野/高分解能観察/電子回折/EDS分析/EF-TEM/EELSTEM 明視野/暗視野/高分解能観察/電子回折/EDS分析