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装置

種別装置名型式装置管理者
問合わせ
透過電子顕微鏡モノクロメーター搭載超高分解能収差補正型分析電子顕微鏡FEI Titan G2 60-300 Cubed Double Correcter早坂 祐一郎
超高分解能収差補正型分析電子顕微鏡FEI Titan G2 60-300 Cubed Probe Corrector西嶋 雅彦
サブ・オングストローム高分解能分析透過電子顕微鏡FEI Titan80-300 Image Corrector西嶋 雅彦
透過電子顕微鏡JEM-3010  ( 停止中 )早坂 祐一郎
走査電子顕微鏡高分解能・低加速電圧走査電子顕微鏡Hitachi Hitech SU-8000早坂 祐一郎
超高分解能走査電子顕微鏡Hitachi Hitec S-5500早坂 祐一郎
集束イオンビーム装置FIB/SEM 加工観察装置FEI-Quanta3D西嶋 雅彦
FIB /SEM 加工観察装置
FEI-Versa3D西嶋 雅彦